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智能異頻介質損耗測試儀裝置功能特點

準 確 度：CX:±（讀(du)數×1%+1pF）    

       tgδ:±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾指標:變頻抗干(gan)擾，在200%干(gan)擾下仍(reng)能達到上述準確度

電容量范圍:內施高壓(ya)：3pF～60000pF/10kV      60pF～1μF/0.5kV

       外施高壓：3pF～1.5μF/10kV    60pF～30μF/0.5kV

分 辨 率:0.001pF，4位有(you)效(xiao)數字

tgδ范圍:不限，分辨(bian)率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三種(zhong)試(shi)品自(zi)動識(shi)別。

試驗電流范圍:10μA～5A

內施高壓(ya):設定(ding)電壓(ya)范圍：0.5～10kV

大(da)輸(shu)出電流:200mA

升降壓方式(shi):連續(xu)平滑(hua)調節

電壓精度:±(1.5%×讀數(shu)+10V)

電壓分辨率:1V

試驗頻(pin)率:45、50、55、60、65Hz單頻(pin)

智能異頻介質損耗測試儀裝置產品別稱

介(jie)(jie)損(sun)測(ce)試儀(yi)、抗干擾介(jie)(jie)損(sun)測(ce)試儀(yi)、全自(zi)動(dong)介(jie)(jie)損(sun)測(ce)試儀(yi)、異頻介(jie)(jie)損(sun)測(ce)試儀(yi)、異頻介(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)試儀(yi)、抗干擾介(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)試儀(yi)、全自(zi)動(dong)介(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)試儀(yi)

功能特點

1、變頻抗干擾

采用(yong)變頻抗干擾(rao)技(ji)術，在200%干擾(rao)下仍(reng)能(neng)準(zhun)確測量，測試(shi)數據穩定，適(shi)合在現場做抗干擾(rao)介損試(shi)驗(yan)。

2、高精度測量

采(cai)用數字波形分析和(he)電橋自校準(zhun)等技術，配合高精度三端標準(zhun)電容器，實(shi)現(xian)高精度介(jie)損測量。

儀器所有(you)量程輸入(ru)電阻低(di)于2Ω，消除了測量電纜附(fu)加電容的(de)影響。

3、多級安全(quan)保護，確保人(ren)身和設備(bei)安全(quan)

高(gao)(gao)壓保(bao)護(hu)：試品短路、擊(ji)穿(chuan)或高(gao)(gao)壓電流波動，能(neng)以短路方式(shi)高(gao)(gao)速切斷(duan)輸出。

低(di)壓保護：誤接380V、電源波動(dong)或突然斷電，啟(qi)動(dong)保護，不會引起過電壓。

接(jie)(jie)地保護：儀器接(jie)(jie)地不良使(shi)外(wai)殼帶危險電壓(ya)時，啟動接(jie)(jie)地保護。

C  V  T：高壓(ya)電(dian)壓(ya)和電(dian)流(liu)、低壓(ya)電(dian)壓(ya)和電(dian)流(liu)四個保(bao)護限，不(bu)會損壞設(she)備；誤選菜單不(bu)會輸出激(ji)磁電(dian)壓(ya)。CVT測量(liang)時無10kV高壓(ya)輸出。

工作原理：

啟(qi)動測(ce)(ce)(ce)(ce)量后高(gao)壓(ya)設定(ding)值送到變(bian)(bian)(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)，變(bian)(bian)(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)用(yong)PID算法將(jiang)輸出(chu)緩(huan)速(su)(su)調(diao)整到設定(ding)值，測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)路(lu)將(jiang)實測(ce)(ce)(ce)(ce)高(gao)壓(ya)送到變(bian)(bian)(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)，微調(diao)低壓(ya)，實現準(zhun)確(que)高(gao)壓(ya)輸出(chu)。根據正/反接線和內/外標準(zhun)電(dian)容的設置，測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)路(lu)根據試驗電(dian)流自動選擇(ze)輸入并切換量程(cheng)，測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)路(lu)采用(yong)傅立(li)葉變(bian)(bian)(bian)換濾掉干擾(rao)，分離出(chu)信號(hao)基波，對標準(zhun)電(dian)流和試品(pin)電(dian)流進(jin)行(xing)矢量運算，幅值計(ji)算電(dian)容量，角(jiao)差計(ji)算tgδ。反復進(jin)行(xing)多次測(ce)(ce)(ce)(ce)量，經過排序(xu)選擇(ze)一個中間結(jie)果。測(ce)(ce)(ce)(ce)量結(jie)束，測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)路(lu)發出(chu)降壓(ya)指令變(bian)(bian)(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)緩(huan)速(su)(su)降壓(ya)到0。

CVT測量：CVT隔離開(kai)關斷(duan)開(kai)，低壓隔離開(kai)關接(jie)(jie)通輸出(chu)低壓。測量C2時，CVT倒線開(kai)關接(jie)(jie)通，C2接(jie)(jie)入試品通道，用C1作標準電容測量C2。