品牌 | 旭明 | 產地 | 國產 |
---|---|---|---|
加工定制 | 是 |
抗干擾介質損耗測試儀/承裝修試設備高精度測量
采用頻率浮動、數(shu)字波形(xing)分析和電(dian)橋自校(xiao)準(zhun)等技(ji)術,配合高(gao)精度三(san)端標準(zhun)電(dian)容器,實現(xian)高(gao)精度介損測量,并且正/反接線測量的(de)準(zhun)確度和穩定性*。
抗干擾介質損耗測試儀/承裝修試設備功能特點
準 確(que) 度:CX:±(讀數×1%+1pF)
tgδ:±(讀(du)數×1%+0.00040)
抗干擾指標:變(bian)頻抗干擾,在200%干擾下仍能達(da)到上述準(zhun)確度
電容量(liang)范(fan)圍:內(nei)施(shi)高壓:3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外施高壓:3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分 辨 率:0.001pF,4位有效數字
tgδ范圍:不限,分辨率0.001%,電容、電感、電阻三(san)種試(shi)品自(zi)動識別。
試驗(yan)電(dian)流(liu)范圍:10μA~5A
內施高壓:設(she)定電壓范圍(wei):0.5~10kV
大(da)輸出電(dian)流:200mA
升降壓(ya)方式:連續平(ping)滑調節
電壓精度:±(1.5%×讀數+10V)
電壓分辨率:1V
試驗頻率:45、50、55、60、65Hz單頻
、產品別稱
介損(sun)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、抗干(gan)(gan)擾介損(sun)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、全自動介損(sun)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、異頻介損(sun)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、異頻介質損(sun)耗(hao)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、抗干(gan)(gan)擾介質損(sun)耗(hao)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、全自動介質損(sun)耗(hao)測(ce)(ce)試儀(yi)(yi)
功能特點
1、變頻抗干擾
采用(yong)變頻抗干擾(rao)技(ji)術,在(zai)200%干擾(rao)下仍能準確測(ce)量,測(ce)試數據穩定(ding),適合(he)在(zai)現場做抗干擾(rao)介損試驗。
2、高精度測量
采用數字(zi)波(bo)形分析(xi)和電橋自校準等技術,配(pei)合高精度三端標準電容(rong)器,實(shi)現(xian)高精度介損(sun)測量。
儀器所有量(liang)程輸(shu)入電阻低于(yu)2Ω,消除(chu)了(le)測量(liang)電纜附(fu)加電容(rong)的(de)影響。
3、多(duo)級安全保護,確保人(ren)身和設備安全
高(gao)(gao)壓保護(hu):試品短路、擊(ji)穿或(huo)高(gao)(gao)壓電流(liu)波動,能以短路方式高(gao)(gao)速切斷輸出(chu)。
低壓保(bao)護:誤接380V、電(dian)源波動或突然斷(duan)電(dian),啟動保(bao)護,不會引起過(guo)電(dian)壓。
接地(di)保護:儀器接地(di)不良使外殼帶危險(xian)電壓時,啟動接地(di)保護。
C V T:高(gao)壓電(dian)(dian)壓和(he)電(dian)(dian)流(liu)、低壓電(dian)(dian)壓和(he)電(dian)(dian)流(liu)四個保護限,不會損壞設備(bei);誤選菜單不會輸(shu)出(chu)激磁電(dian)(dian)壓。CVT測量(liang)時無10kV高(gao)壓輸(shu)出(chu)。
工作原理:
啟(qi)動測(ce)量(liang)后高(gao)(gao)壓(ya)設定值(zhi)送(song)(song)到(dao)變頻電(dian)(dian)(dian)源(yuan),變頻電(dian)(dian)(dian)源(yuan)用PID算(suan)法將輸(shu)出緩速(su)(su)調整到(dao)設定值(zhi),測(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)路將實(shi)測(ce)高(gao)(gao)壓(ya)送(song)(song)到(dao)變頻電(dian)(dian)(dian)源(yuan),微調低壓(ya),實(shi)現準確(que)高(gao)(gao)壓(ya)輸(shu)出。根據正/反(fan)接(jie)線和(he)內/外標準電(dian)(dian)(dian)容(rong)的(de)設置,測(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)路根據試(shi)驗電(dian)(dian)(dian)流自動選擇輸(shu)入并切換量(liang)程(cheng),測(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)路采(cai)用傅立葉變換濾掉干擾,分離出信號基波,對標準電(dian)(dian)(dian)流和(he)試(shi)品(pin)電(dian)(dian)(dian)流進行(xing)矢量(liang)運算(suan),幅值(zhi)計算(suan)電(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang),角差計算(suan)tgδ。反(fan)復進行(xing)多次測(ce)量(liang),經(jing)過排序選擇一(yi)個(ge)中間結果。測(ce)量(liang)結束(shu),測(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)路發出降(jiang)壓(ya)指(zhi)令(ling)變頻電(dian)(dian)(dian)源(yuan)緩速(su)(su)降(jiang)壓(ya)到(dao)0。
CVT測(ce)(ce)量(liang)(liang):CVT隔離開(kai)關斷開(kai),低壓(ya)隔離開(kai)關接(jie)通(tong)(tong)輸(shu)出低壓(ya)。測(ce)(ce)量(liang)(liang)C2時,CVT倒線開(kai)關接(jie)通(tong)(tong),C2接(jie)入試品通(tong)(tong)道,用C1作(zuo)標(biao)準電容測(ce)(ce)量(liang)(liang)C2。